电子产品做冷热冲击试验的目的和必要性

    冷热冲击试验是指在电子产品上施加快速变化的温度，用以暴露产品在温度变化条件下出现的潜在的质量缺陷。在电子产品的开发过程中，会有各种原因导致缺陷的产生。比如：使用了有缺陷的元器件，零件，外发件，工艺过程不完善，制作过程工艺不规范违规操作，和不规范的工艺施工工序等，都会给电子产品的可靠性带来潜在的问题。而有些缺陷是可以通过常规的检验手段可以检验出来的，排查出来。而有些是常规手法是检测不出来的，这就是潜在的缺陷。如果产品在交付使用前找出这些潜在缺陷并加以改进，那么zui终导致到后期使用中问题 暴露。

        冷热冲击试验是针对电子产品在实际使用中可能遇到的温度环境及应力强度，选择zui能激发其潜在缺陷的温度，用以确定产品在经受周围大气温度的急剧变化（冷热冲击）时，产品是否产生物理损害或性能下降，使潜在缺陷加快发展为早期故障，剔除零部件早期失效及暴露设计和制造工艺的不足，并加以改进，使其可靠性更接近实际需要，从而保证电子产品的可靠性。

     使用冷热冲击试验对设备的高低温转换的速度和高低温的快速平衡到设定的温度都有极其严格的要求。

    科宝试验设备有限公司生产的KB-TC-X.X冷热冲击试验箱就能*客户的试验要求。它的冷热冲击温度转换时间在8秒内完成，达到设定温度仅在5分钟内完成，冲击温度范围在+150℃— -65℃。对客户的特殊要求可以定做。

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